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TEConnectivity的SESD器件解決普遍電路保護難題

TEConnectivity的SESD器件解決普遍電路保護難...

所屬類別:最新資訊點擊次數:1961發布日期:2014-03-19

     設計工程師充分了解在應付由charged board event (CBE) 所造成的較嚴重損壞時,提供符合IEC 61000-4-2標準的靜電放電 (ESD)保護功能可能并不足夠。這些極強的浪涌事件具有高峰值電流和快速上升時間特性,可能損壞智能手機、平板電腦、汽車信息娛樂設備和其它敏感的電子產品的I/O端口。認識到這一事實,TE Connectivity旗下的電路保護業務部門推出了全新的硅ESD (SESD)系列器件, 這些器件的空氣放電額定值為±20kV 和±22kV,遠遠高于IEC 8kV 接觸放電和15kV空氣放電標準要求,可以幫助設計人員解決由CBE事件引起的普遍電路保護難題。
     TE電路保護部產品經理Nicole Palma表示:“在與設計工程師一起工作時,我們發現IEC的ESD保護標準沒有真正解決可能導致產品故障的CBE問題。針對這一挑戰,我們提升了現有的小型低電容SESD器件產品線,提供20kV及更高的浪涌保護能力。這種更強大的保護能力可以幫助制造商提高產品可靠性,最大限度地減少現場返修(field return),而這正是競爭異常激烈的計算機、移動、消費和汽車市場的關鍵設計考慮。”
  此新一代SESD產品同時具有單向和雙向配置,以及1、2和4通道器件,采用微小型0201和0402尺寸及標準直通(flow-through)封裝。除了提供20kV接觸放電性能,這些器件的浪涌保護能力(4通道陣列為2.2A,1和2通道器件為2.5A)有助于提供更穩健的性能。
  SESD器件的典型輸入電容在高頻譜下為0.15pF (雙向)和0.30pF (單向),能幫助滿足HDMI、eSATA和其它高速信號要求。它們的低鉗位電壓 (<15V) 有助于達到快速啟動時間和最大限度地減少能量通泄 (energy let-through)。此外,SESD器件具有極低的泄漏電流(50nA),幫助在必須節約能源的應用中降低功耗。


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